Titelaufnahme

Titel
On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling / vorgelegt von M.Sc. Mehran Jamshidifar aus Khorram Abad ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar
VerfasserJamshidifar, Mehran In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen
BeteiligteHaring Bolívar, Peter In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen
KörperschaftUniversität Siegen In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen
ErschienenSiegen : Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen ; Siegen : Universitätsbibliothek Siegen, 2017, 14.03.2017
Ausgabe
Elektronische Ressource
Umfang1 Online-Ressource (XIII, 147 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
HochschulschriftUniversität Siegen, Dissertation, 2016
Anmerkung
Enthält Zusammenfassung in deutscher Sprache
SerieHöchstfrequenztechnik und Quantenelektronik ; Band 7
SchlagwörterFemtosekundenlaser In Wikipedia suchen nach Femtosekundenlaser / Messsystem In Wikipedia suchen nach Messsystem / Elektrooptische Abtastung In Wikipedia suchen nach Elektrooptische Abtastung / Wellenleiter In Wikipedia suchen nach Wellenleiter
URNurn:nbn:de:hbz:6:2-90809 Persistent Identifier (URN)
Zugriffsbeschränkung
 Das Dokument ist frei verfügbar.
Dateien
On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling [8.07 mb]
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