Titelaufnahme

    Titel
    On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling / vorgelegt von M.Sc. Mehran Jamshidifar aus Khorram Abad ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar
    VerfasserJamshidifar, Mehran
    GutachterHaring Bolívar, Peter
    KörperschaftUniversität Siegen
    ErschienenSiegen : Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen ; Siegen : Universitätsbibliothek Siegen, [2017], 14.03.2017
    Umfang1 Online-Ressource (XIII, 147 Seiten) Illustrationen, Diagramme
    HochschulschriftUniversität Siegen, Dissertation, 2016
    Anmerkung
    Enthält Zusammenfassung in deutscher Sprache
    Serie
    Höchstfrequenztechnik und Quantenelektronik ; 7
    Institution
    Universität Siegen
    Schlagwörter (GND)Femtosekundenlaser / Messsystem / Elektrooptische Abtastung / Wellenleiter / Siegen
    URNurn:nbn:de:hbz:6:2-90809 
    Zugänglichkeit
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     Nachweis in der ULB Münster
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