Titelaufnahme

Titel
On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling / vorgelegt von M.Sc. Mehran Jamshidifar aus Khorram Abad ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Peter Haring Bolívar
VerfasserJamshidifar, Mehran
BeteiligteHaring Bolívar, Peter
KörperschaftUniversität Siegen
ErschienenSiegen : Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen ; Siegen : Universitätsbibliothek Siegen, 2017, 14.03.2017
Ausgabe
Elektronische Ressource
Umfang1 Online-Ressource (XIII, 147 Seiten) : Illustrationen, Diagramme
HochschulschriftUniversität Siegen, Dissertation, 2016
Anmerkung
Enthält Zusammenfassung in deutscher Sprache
SerieHöchstfrequenztechnik und Quantenelektronik ; Band 7
SchlagwörterFemtosekundenlaser / Messsystem / Elektrooptische Abtastung / Wellenleiter
URNurn:nbn:de:hbz:6:2-90809 
Zugänglichkeit
 Das Dokument ist öffentlich im Netz zugänglich.
Dateien
On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling [8.07 mb]
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