2 Treffer für Ort = "[Siegen"

• Entwicklung von modellbasierten Methoden zur Bestimmung von Materialeigenschaften im THz-Bereich Stock, Daniel Siegen : Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen ; Siegen : Universitätsbibliothek Siegen, [2018], 22.11.2018

• On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling Jamshidifar, Mehran Siegen : Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen ; Siegen : Universitätsbibliothek Siegen, [2017], 14.03.2017