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• On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling Jamshidifar, Mehran Siegen : Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät, Universität Siegen ; Siegen : Universitätsbibliothek Siegen, [2017], 14.03.2017

• Ultrabroadband sampling circuits in SiGe BiCMOS technology for time interleaved analog-to-digital converter = Ultrabreitbandige Sampler in SiGe BiCMOS-Technologie für Analog-Digital-Wandler mit zeitversetzter Abtastung Wu, Liang Paderborn : Heinz Nixdorf Institut, Universität Paderborn, 2021